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微机继电保护测试仪df/dt闭锁

来源：detroitsignfactory.com    更(geng)新(xin)时间：2020-08-03

 微机继(ji)电保护测试仪df/dt闭锁
 df/dt测试范围
测试(shi)(shi)(shi)“df/dt闭锁值(zhi)(zhi)”时(shi)，在(zai)此范围内(nei)逐点进行试(shi)(shi)(shi)探(tan)(tan)测试(shi)(shi)(shi)，每(mei)次测试(shi)(shi)(shi)时(shi)都从频(pin)率(lv)始值(zhi)(zhi)下滑(hua)（或上滑(hua)）至终(zhong)值(zhi)(zhi)，下滑(hua)（或上滑(hua)）的(de)(de)df/dt值(zhi)(zhi)在(zai)该范围内(nei)逐点变(bian)化(hua)，试(shi)(shi)(shi)探(tan)(tan)至某一轮试(shi)(shi)(shi)验至保护动作，则(ze)测出此时(shi)的(de)(de)df/dt闭锁的(de)(de)边界值(zhi)(zhi)。
因为(wei)(wei)保护在大(da)于整定(ding)的(de)(de)df/dt值下滑时闭(bi)(bi)锁，所以，一(yi)般变化始(shi)值应设(she)置为(wei)(wei)大(da)于保护整定(ding)的(de)(de)闭(bi)(bi)锁值，变化终值应设(she)置为(wei)(wei)小于保护整定(ding)的(de)(de)闭(bi)(bi)锁值，即测试保护从不(bu)动(dong)(dong)作到(dao)动(dong)(dong)作，测出保护的(de)(de)df/dt闭(bi)(bi)锁值。
频率变化范(fan)围(wei)
每轮试验(yan)频率从始值下滑（或(huo)上滑）至终值。始值一(yi)(yi)般(ban)为(wei)50Hz，变化终值不(bu)(bu)能(neng)设置太小(xiao)，因为(wei)一(yi)(yi)般(ban)装置都有一(yi)(yi)个固有的“闭(bi)(bi)锁频率”，频率太低了，装置将会被闭(bi)(bi)锁不(bu)(bu)出口(kou)。
注意：
MEJB-902F,微机继电保护测试仪做该试验时频率变化前延(yan)时一般(ban)不(bu)能(neng)太小，以(yi)使保护有足够时间解除闭锁状态。




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